Máy đo chiều cao độ sâu lớp micron AFM-30 của Nhật Bản

Có thể đàm phánCập nhật vào01/18

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

1. Là máy đo chiều cao độ sâu mới kết hợp quan sát hình ảnh khe cắt với theo dõi AF (lấy nét tự động) của hình ảnh ánh sáng điểm. 2. Bằng cách theo dõi trình điều khiển AF liên tục, các phép đo lặp lại có độ chính xác cao có thể đạt được, hoạt động tốt và tốc độ nhanh. 3. Bởi vì nó là một cách để đo lường trong khi quan sát hình dạng bước được ánh xạ bởi hình ảnh khe, do đó, nó có thể xác định độ cao và thấp trên hình ảnh đo lường trong thời gian thực, và nó có thể dễ dàng đánh giá các bộ phận cần đo lường. 4. Hình ảnh khe tại điểm xác định · Hình ảnh ánh sáng điểm · Tất cả các hệ thống đo phù hợp ở trung tâm của đường cơ sở dây điện tử. Bằng cách kiểm tra độ lệch, phép đo có thể được ngăn chặn bằng các giá trị số sai. 5. Góc nâng cắt ánh sáng Ngoài 90 ° tiêu chuẩn, bạn cũng có thể chọn nhập khẩu 30 ° 60 ° 120 ° theo mục đích sử dụng.

Chi tiết sản phẩm

Thông số kỹ thuật chính

Phương pháp điều tra

Chế độ cắt ánh sáng (sử dụng hệ thống quang học khe để xác định chiều cao độ sâu)

■ Vật kính

Tỷ lệ cố định 10x (5x, 20x)

Phương pháp di chuyển trục

Chế độ theo dõi AF liên tục dựa trên ánh sáng điểm (có thể đo bằng tay khi ngoại tuyến)

Khoảng cách chiếu

Loại bán gương 10um

Đo trục Z

Máy đo tuyến tính kỹ thuật số trục Z 0.1 Đọc

Lặp lại chính xác

~Trong vòng 1 micron

Dùng nguồn sáng

Laser bán dẫn (lớp 2), nguồn sáng halogen

Tự động chụp đại diện cho sự thay đổi của ánh sáng khe mỏng, đốm laser đỏ, chênh lệch bậc thang trong hình dạng mặt cắt, Z

Chức năng trục nhanh chóng theo sau, thực hiện chức năng hiển thị số để xác định giá trị số (tự động lấy nét) · Hệ thống)

Kết hợp với các đường cơ sở của đường dây điện tử, mở rộng phạm vi đo lường và cải thiện giá trị sử dụng, là

Máy đo chiều cao độ sâu mới.

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị