Máy in 3D hoàn toàn tự động loại nào tốt?

Hình ảnh 3DTổng quan

Rtec 3 chiềuHình ảnhSản xuất tại Silicon Valley, California. Nó đã được sử dụng bởi nhiều phòng thí nghiệm, trường đại học và các ngành công nghiệp. UPloạtKết hợp 4 mô hình hình ảnh trên một đầu.Khả năng chạy nhiều thử nghiệm trên cùng một nền tảng thử nghiệm，Chuyển đổi chế độ hình ảnh chỉ với một nút bấm. Sự kết hợp này cho phép dễ dàng hình ảnh bất kỳ bề mặt nào như trong suốt, phẳng, tối, phẳng, cong, v.v. Mỗi mô hình hình ảnh có những lợi thế riêng vàTất cảCông nghệ bổ sung cho nhau.Công nghệ tích hợp này không chỉ có lợi cho việc phân tích toàn diện dữ liệu mà còn giảm chi phí bảo trì và do đó tăng hiệu quả.

Kết hợp hồ sơ quang học 3D

Giao thoa kế ánh sáng trắng

Kính hiển vi đồng tập trung Rotary Disk

Kính hiển vi trường tối

Kính hiển vi trường nhìn rõ

Thông số nền tảng chính

Thông số sản phẩm

Nền tảng điện tiêu chuẩn 150x150mm (tùy chọn 210x310mm)

Tháp pháo tiêu chuẩn, tháp pháo điện tùy chọn

Phạm vi dọc lên đến 100mm

Giai đoạn nghiêng 6 độ

XYnền tảngNghị quyết 0.1um

Mẫu nối tự động

Đầu Sigma - Giao thoa kế ánh sáng trắng

Đầu Lambda - Giao thoa kế ánh sáng trắng+Đồng tập trung+Trường tối+Trường sáng

Ứng dụng

●độ nhám●Mặc khối lượng●Chiều cao bước●Độ dày phim●Hình dạng

Ví dụ hình ảnh thử nghiệm

DLC tráng bóng Rough Coated bề mặt bóng tròn mài điểm

Kim cương Biofilm Micro Fluid Channel

Polymer tráng mực đánh dấu đồng xu

Dấu vết thất bại của nhôm mài mòn

Lớp phủ thất bại dấu vết chip kênh wafer

Trên đây làChế độ kép Bề mặt 3DHồ sơ cụHình dáng hàng mẫu được chụp ra. Sử dụng kết hợp nhiều công nghệ quang học trên cùng một nền tảng, máy đo có thể đo hầu như bất kỳ loại mẫu độ phân giải nm nào. Bề mặt nàyĐường viềnMáy được trang bị phần mềm phân tích mạnh mẽ, phù hợp với nhiều tiêu chuẩn. Chế độ kép Bề mặt 3DĐường viềnMáy có thể chạy nhiều thử nghiệm trên cùng một nền tảng thử nghiệm, và sự kết hợp của các sản phẩm có thể được thay đổi theo các yêu cầu ứng dụng kỹ thuật khác nhau. Thử nghiệm với các chế độ khác nhau có thể được thực hiện cho cùng một khu vực của mẫu và chuyển đổi chế độ có thể được tự động hóa. Sự kết hợp của nhiều công nghệ có thể giúp các công nghệ khác nhau phát huy đầy đủ lợi thế của mình trên cùng một máy kiểm tra. Công nghệ tích hợp này không chỉ có lợi cho việc phân tích toàn diện dữ liệu mà còn giảm chi phí bảo trì và do đó tăng hiệu quả.