Máy giao thoa ánh sáng trắng tự động loại nào tốt?

　　Giao thoa kế ánh sáng trắngTổng quan:

Rtec được sản xuất tại Thung lũng Silicon, California. Nó đã được sử dụng bởi nhiều phòng thí nghiệm, trường đại học và các ngành công nghiệp. Dòng UP kết hợp 4 chế độ hình ảnh trên một đầu. Có khả năng chạy nhiều thử nghiệm trên cùng một nền tảng thử nghiệm, chuyển đổi chế độ hình ảnh chỉ bằng một nút bấm. Sự kết hợp này cho phép dễ dàng hình ảnh bất kỳ bề mặt nào như trong suốt, phẳng, tối, phẳng, cong, v.v. Mỗi mô hình hình ảnh có lợi thế riêng và các công nghệ bổ sung cho nhau. Công nghệ tích hợp này không chỉ có lợi cho việc phân tích toàn diện dữ liệu mà còn giảm chi phí bảo trì và do đó tăng hiệu quả.

Kết hợp hồ sơ quang học 3D

　　1.Giao thoa kế ánh sáng trắng；

2. Kính hiển vi đồng tập trung đĩa quay;

3. Kính hiển vi tầm nhìn tối;

4. Kính hiển vi trường nhìn rõ.

Thông số kỹ thuật nền tảng chính:

Thông số kỹ thuật sản phẩm:

1. Nền tảng điện tiêu chuẩn 150x150mm (tùy chọn 210x310mm)

2. tháp pháo tiêu chuẩn, tháp pháo điện tùy chọn

3. Phạm vi dọc lên đến 100mm

4. Giai đoạn nghiêng 6 độ

5. Độ phân giải nền tảng XY 0.1um

6. Mẫu nối tự động

Đầu Sigma -Giao thoa kế ánh sáng trắng

Lambda đầu -Giao thoa kế ánh sáng trắng+Đồng tập trung+trường tối+trường sáng

Ứng dụng

Độ thô ráp; Mặc thể tích; Chiều cao bậc thang; Độ dày của phim; Hình dạng

Ví dụ về hình ảnh thử nghiệm:

Trên đây là hình dạng mẫu được chụp bằng máy đường nét bề mặt 3 chiều hai chế độ. Sử dụng kết hợp nhiều công nghệ quang học trên cùng một nền tảng, máy đo có thể đo hầu như bất kỳ loại mẫu độ phân giải nm nào. Máy hồ sơ bề mặt này được trang bị phần mềm phân tích mạnh mẽ, đáp ứng nhiều tiêu chuẩn. Máy hồ sơ bề mặt ba chiều chế độ kép có khả năng chạy nhiều thử nghiệm trên cùng một nền tảng thử nghiệm và sự kết hợp của các sản phẩm có thể thay đổi theo các yêu cầu ứng dụng kỹ thuật khác nhau. Thử nghiệm với các chế độ khác nhau có thể được thực hiện cho cùng một khu vực của mẫu và chuyển đổi chế độ có thể được tự động hóa. Sự kết hợp của nhiều công nghệ có thể giúp các công nghệ khác nhau phát huy đầy đủ lợi thế của mình trên cùng một máy kiểm tra. Công nghệ tích hợp này không chỉ có lợi cho việc phân tích toàn diện dữ liệu mà còn giảm chi phí bảo trì và do đó tăng hiệu quả.