Máy đo bề mặt có khả năng chạy nhiều thử nghiệm trên cùng một nền tảng thử nghiệm và sự kết hợp của các sản phẩm có thể thay đổi theo các yêu cầu ứng dụng kỹ thuật khác nhau. Kiểm tra thử nghiệm với các chế độ khác nhau có thể được thực hiện cho cùng một khu vực của mẫu và chuyển đổi chế độ có thể được tự động hóa hoàn toàn. Sự kết hợp của nhiều công nghệ có thể giúp các công nghệ khác nhau phát huy đầy đủ lợi thế của mình trên cùng một máy kiểm tra. Công nghệ tích hợp này không chỉ có lợi cho việc phân tích toàn diện dữ liệu mà còn giảm chi phí bảo trì và do đó tăng hiệu quả.
Máy hồ sơ bề mặtTính năng
Hình dạng bề mặt ba chiều co-focus có độ phân giải ngang cực cao về hình dạng quang học, kèm theo máy ảnh CCD với độ phân giải tự động 5 triệu, mẫu dưới không gian có thể điều chỉnh đến 0,05um, là cấu hình lý tưởng để đo các đặc điểm bề mặt và hình dạng.
| Tóm tắt dự án |
Mô tả tham số |
| Hình dạng bề mặt ba chiều co-focus |
Công nghệ đồng tiêu điểm đĩa quay có thể quét dọc nhanh.
Sử dụng khẩu độ cao (0,95) cũng như ống kính 3D 3D full-view bội số cao (150X) để mô tả phân tích độ dốc (độ dốc cực lớn<giao thoa đo>: 72o vs 44o).
Với độ phân giải ngang cực cao về hình dạng quang học, máy ảnh CCD với độ phân giải tự động 5 triệu, mẫu dưới không gian có thể điều chỉnh đến 0,05um, đây là cấu hình lý tưởng để đo các đặc điểm bề mặt và hình dạng.
Không giới hạn về độ nhám bề mặt đo/độ phản xạ bề mặt.
Áp dụng cho lớp/phim trong suốt.
Tương thích với trường sáng và trường tối; DIC quang học.
Ống kính tele tầm xa là lý tưởng để đo tỷ lệ khung hình cao và đặc tính độ dốc.
Độ ổn định cao.
|